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簡(jiǎn)要描述：隨著(zhù)LED應用的飛速發(fā)展，其失效問(wèn)題也隨之表現的尤為突出，特別是LED隨機性不點(diǎn)燈或長(cháng)期不點(diǎn)燈，以及燒燈等，是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關(guān)鍵問(wèn)題。廣電計量LED失效分析,光電器件測試通過(guò)對LED內部的微觀(guān)分析，確認其結構上的失效特征，可以改進(jìn)設計、制造、工藝及應用上的潛在或已存在的失效風(fēng)險，提高產(chǎn)品的可靠性及壽命。
廠(chǎng)商性質(zhì)：工程商更新時(shí)間：2024-03-13訪(fǎng)問(wèn)次數：335產(chǎn)品分類(lèi)
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| 品牌 | 廣電計量 | 服務(wù)區域 | 全國 |
|---|---|---|---|
| 服務(wù)周期 | 常規5-7個(gè)工作日 | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS |
| 服務(wù)費用 | 視具體項目而定 |
服務(wù)范圍
廣電計量LED失效分析,光電器件測試服務(wù)范圍：LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線(xiàn)、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅動(dòng)電源。
檢測標準
● GB/T15651-1995半導體器件分立器件和集成電路：光電子器件（國家標準）
● GB7000系列燈具國家標準（強制性）
● GB7000.5道路域街路照明燈具安全要求
● GB/T9468-1988道路照明燈具光度測試
● GB/T9468-2008燈具分布光度測測量的一般要求
● GB/T5700-2008《照明測量方法》標準
檢測項目
（1）分析大類(lèi)：成本分析、競品分析、失效分析。
（2）常?檢測項目：導熱能力檢測，光電參數檢測，氣密性檢測、可疑污染元素檢測，塑封料、鍍銀層、銅基板、鍵合線(xiàn)等材料質(zhì)量檢測。
（3）常?失效模式分析：硫化、掉電極、漏電、過(guò)電應力、鍵合異常、鍍層異常、封裝結合性變差、散熱能力變差。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
國家在5G通信領(lǐng)域的LED正在取代傳統節能燈、鹵素燈大量應用于民用照明、城市亮化工程。市場(chǎng)規模的無(wú)限放大以及市場(chǎng)價(jià)格的不斷降低，造成市場(chǎng)上LED燈珠質(zhì)量參差不齊。降低生產(chǎn)原材料成本的同時(shí)如何不斷提高產(chǎn)品質(zhì)量是LED行業(yè)一直面臨的問(wèn)題。
我們的優(yōu)勢
通過(guò)對各種型號LED燈珠大量、長(cháng)時(shí)間的AEC-Q環(huán)境老化試驗，以及市面上各種LED產(chǎn)品質(zhì)量異常根因分析案例，廣電計量LED失效分析,光電器件測試積累了LED領(lǐng)域全面的基礎數據，以及LED上中下游全產(chǎn)業(yè)鏈常?問(wèn)題的經(jīng)驗，可幫助企業(yè)根據失效機理，指導產(chǎn)品改進(jìn)升級。
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